XRD-7000
採用樣品水平型測角儀,Windows7對應的軟體,操作非常便利。豐富的選配件支援多種多樣的應用。L型可對應最大為φ350mm的大型樣品。
XRD X光繞射儀
X光繞射分析法可無損的物相定性和定量分析,而且利用繞射峰位、繞射峰強度、繞射峰線型等資訊可進行材料晶體結構的表徵,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘餘應力測定,結晶度計算等。X光繞射分析法是材料微觀結構表徵最常規和最有效的方法之一。
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